LCP-25 eksperimintele ellipsometer

Koarte beskriuwing:

De hânmjittich elliptyske polarimeter brûkt de útstjerren metoade te mjitten de dikte en brekingsyndeks fan 'e film, en manuell regulearret de ôfwiking en ôfwiking hoeke fan it test proses.Ellipsometry wurdt in protte brûkt yn 'e mjitting fan dielektrike tinne film op fêste substraat.Yn 'e metoade foar it mjitten fan' e dikte fan 'e film kin it wurde mjitten oant de tinste en de heechste presyzje.

Stjoer e-mail nei ús

Produkt Detail

Produkt Tags

Spesifikaasjes

Beskriuwing	Spesifikaasjes
Dikte Measurement Range	1 nm ~ 300 nm
Berik fan ynfal hoeke	30º ~ 90º , Flater ≤ 0.1º
Polarisator & Analyzer krusingshoeke	0º ~ 180º
Skiif Angular Scale	2º per skaal
Min.Lêzing fan Vernier	0.05º
Optical Center Hichte	152 mm
Wurk Stage Diameter	Φ 50 mm
Algemiene Ofmjittings	730x230x290 mm
Gewicht	Likernôch 20 kg

Part List

Beskriuwing	Oantal
Ellipsometer ienheid	1
He-Ne Laser	1
Fotoelektryske Amplifier	1
Foto Cell	1
Silica film op silisium substraat	1
Analyse Software CD	1
Gebrûksoanwizing	1