LB-820 UV-Vis NIR Spektrofotometer

Instrument funksjes

It ûntwerp fan dûbele beam optysk systeem ferleget de eftergrûn ynterferinsje en ferbetteret de test krektens.

De ûntfanger dielen fan it ynstrumint binne allegear ymportearre apparaten, dy't soargje foar de hege prestaasjes en stabiliteit fan it ynstrumint.

De kontrôle fan it ynstrumint (lykas grating bekearing, filter konverzje, ûntfanger bekearing, golflingte skennen, ensfh) wurdt allegear regele troch de kompjûter, en de ynterface is USB2.0.De ferbining fan it ynstrumint is ienfâldich, wat de kommunikaasjesnelheid sterk ferbetteret.

De yntegreare optyske testsysteemsoftware kin wurde selektearre om automatysk de sichtbere ljochttransmittance, direkte sinneljochttransmittance, direkte sinneljochtrefleksie en oare relatearre parameters fan gebouglês te detektearjen.

De totale transmittance fan sinne-enerzjy en de shielding koëffisjint fan ferskate finster glêzen komponinten oan sinne strieling waarmte kin wurde krigen troch gear te wurkjen mei de glêzen healrûne emissivity detector.

Spesjale sample test accessoires kinne wurde selektearre.

De software stelt de ymportfunksje yn, dy't gegevens yn tekstformaat ymportearje kin.

Echte-tiidmjitting fan samplegegevens, testresultaatgegevens kinne wurde eksportearre.

De software kin rinne ûnder WinXP en win7 systemen.

Spesifikaasje parameters

1. Ljocht boarne: ymportearre deuterium lamp, wolfraam bromide lamp

2. Golflingte berik (nm): 190-2800 (útwreidzjen nei 3600nm)

3. Wavelength accuracy (nm): ± 0,5 (UV / VIS);± 4 (NIR)

4. Wavelength repeatability (nm): ≤ 0,3 (UV / VIS);≤ 2 (NIR)

5. Bânbreedte (nm): 0,2-5 (UV-Vis), 1-20 (NIR)

6. Transmittance accuracy (% t): ± 0,3

7. Transmission spesifike swiertekrêft refolding (% t): ≤ 0,2

8. Stray ljocht (% t): ≤ 0.2% t (220nm, NAI)

9. Wurkmodus: transmittance, absorbance, reflectivity, enerzjy

10. Softwarefunksje: neffens de oanpaste fan klanten kin de oerienkommende test-ynterface-funksje oanpast wurde om de transmittance, absorbance en absolute refleksje fan 'e testprobe te mjitten.

11. Sampling ynterval: 0.1nm, 0.2nm, 0.5nm, 1nm, 1.5nm, 2nm, 5nm, 10nm

12. Photometric berik: 0 ~ 2.5A

13. Baseline Flatness: ± 0.004a (200-2500nm, nei foarferwaarming foar 30 minuten)

14. Host ynterface: USB2.0

15. Ofmjitting (mm): (foarm) 830 * 600 * 260, (sample keamer) 120 * 240 * 200

16. Test sample spesifikaasje (mm): 30 ~ 110, dikte ≤ 20

17. Gewicht (kg): oer 65

18. Basiskonfiguraasje:

UV Vis NIR spektrometer host, USB data kabel, quartz cuvette, nul blok, applikaasje software, stypjende ark, ensfh (in set fan fêste accessoires en floeibere accessoires is standert)

Glass wiidweidich optyske test systeem software is opsjoneel

* Brûkers moatte har eigen kompjûters en printers leverje

Optional accessoires

Zf820-1 yntegraasje sfear accessoires

Dûbele detektors mei diameter fan Φ 60mm, 380-2500nm

Zf820-2 bêst sample mjitting accessoires

Berik fan klemlens: diameter: Φ 10-36mm;dikte: 0,5-10mm

Zf820-3 refleksje mjitting accessoire

De ynfalshoek is 5 graden, en it refleksjespektrum wurdt metten

Software

De wurkjende software fan it ynstrumint hat rike test- en analysefunksjes, dy't de transmittance, absorbance, enerzjy en reflektiviteit kinne mjitte.It hat de funksjes fan spektrum skennen, mjitting fan fêste punten en mjitting fan meardere golflingte