LB-820 UV-Vis NIR Spektrofotometer

Ynstrumintfunksjes

It ûntwerp fan it dûbele beam optyske systeem ferminderet de eftergrûnynterferinsje en ferbetteret de testnauwkeurigens.

De ûntfangerûnderdielen fan it ynstrumint binne allegear ymportearre apparaten, dy't soargje foar de hege prestaasjes en stabiliteit fan it ynstrumint.

De kontrôle fan it ynstrumint (lykas rasterkonverzje, filterkonverzje, ûntfangerkonverzje, golflingtescanning, ensfh.) wurdt allegear kontroleare troch de kompjûter, en de ynterface is USB2.0. De ferbining fan it ynstrumint is ienfâldich, wat de kommunikaasjesnelheid sterk ferbetteret.

De yntegreare optyske testsysteemsoftware kin selektearre wurde om automatysk de sichtbere ljochtoerdracht, direkte sinneljochtoerdracht, direkte sinneljochtreflektânsje en oare relatearre parameters fan gebouglês te detektearjen.

De totale transmittânsje fan sinne-enerzjy en de ôfskermingskoëffisjint fan ferskate finsterglêskomponinten foar sinnestrielingswaarmte kinne wurde krigen troch gearwurking mei de healrûne emissiviteitsdetektor fan glês.

Spesjale accessoires foar stekproeftests kinne selektearre wurde.

De software stelt de ymportfunksje yn, dy't gegevens yn tekstformaat ymportearje kin.

Echttiidsmjitting fan stekproefgegevens, testresultaatgegevens kinne eksportearre wurde.

De software kin rinne ûnder WinXP- en win7-systemen.

Spesifikaasjeparameters

1. Ljochtboarne: ymportearre deuteriumlampe, wolfraambromidelampe

2. Golflingteberik (nm): 190-3200nm

3. Golflingtekrektens (nm): ± 0.5 (UV / VIS); ± 4 (NIR)

4. Golflingte werhelberens (nm): ≤ 0.3 (UV / VIS); ≤ 2 (NIR)

5. Bânbreedte (nm): 0.2-5 (UV-Vis), 1-20 (NIR)

6. Transmittânsjekrektens (% t): ± 0.3

7. Oerdracht spesifike swiertekrêft opnij folden (% t): ≤ 0.2

8. Strooiljocht (% t): ≤ 0,2% t (220nm, NAI)

9. Wurkmodus: transmittânsje, absorbânsje, reflektiviteit, enerzjy

10. Softwarefunksje: neffens de gewoante fan klanten kin de oerienkommende testinterfacefunksje oanpast wurde om de transmittânsje, absorbânsje en absolute refleksje fan 'e testmonster te mjitten.

11. Samplingynterval: 0.1nm, 0.2nm, 0.5nm, 1nm, 1.5nm, 2nm, 5nm, 10nm

12. Fotometrysk berik: 0 ~ 2.5A

13. Basislineflakheid: ± 0.004a (200-2500nm, nei foarferwaarming foar 30 minuten)

14. Host-ynterface: USB2.0

15. Ofmjittings (mm): (foarm) 830 * 600 * 260, (foarbyldkeamer) 120 * 240 * 200

16. Spesifikaasje fan testmonster (mm): 30 ~ 110, dikte ≤ 20

17. Gewicht (kg): sawat 65

18. Basiskonfiguraasje:

UV Vis NIR-spektrometerhost, USB-datakabel, kwarts kuvette, nulblok, applikaasjesoftware, stipe-ark, ensfh. (in set fêste accessoires en floeibere accessoires is standert)

Glass wiidweidige optyske testsysteemsoftware is opsjoneel

*Brûkers moatte har eigen kompjûters en printers leverje

Opsjeionale accessoires

Zf820-1 yntegrearjende sfearaccessoires

Dûbele detektors mei in diameter fan Φ 60mm, 380-2500nm

Zf820-2 accessoires foar mjitting fan fêste samples

Berik fan klemlens: diameter: Φ 10-36mm; dikte: 0.5-10mm

Zf820-3 refleksjemjittingsaccessoire

De ynfalhoeke is 5 graden, en it refleksjespektrum wurdt metten

Software

De wurkjende software fan it ynstrumint hat rike test- en analysefunksjes, dy't de transmittânsje, absorbânsje, enerzjy en reflektiviteit mjitte kinne. It hat de funksjes fan spektrumscannen, fêstepuntmjitting en multigolflingtemjitting.