LEEM-3 Electric Field Mapping Apparatus

Koarte beskriuwing:

Yn yngenieurtechnology is it faaks nedich om de elektryske fjildferdieling fan it elektrodesysteem te kennen om de bewegingswet fan elektroanen as opladen dieltsjes yn it elektryske fjild te studearjen.Bygelyks, om te bestudearjen de fokus en deflection fan elektroanen beam yn 'e oscilloscope buis, is it nedich om te witten de ferdieling fan it elektryske fjild fan' e elektrodes yn 'e oscilloscope buis.Yn 'e elektroanenbuis moatte wy de ynfloed fan' e ynfiering fan nije elektroden op 'e beweging fan elektroanen studearje, en wy moatte ek de ferdieling fan elektryske fjild witte.Yn 't algemien kinne om de ferdieling fan elektrysk fjild út te finen, analytyske metoade en simulaasje-eksperimintmetoade wurde brûkt.Mar allinich yn in pear ienfâldige gefallen kin de elektryske fjildferdieling wurde krigen troch analytyske metoade.Foar it algemiene of komplekse elektrodessysteem wurdt it meastentiids bepaald troch simulaasjeeksperimint.It neidiel fan 'e simulaasje-eksperimintmetoade is dat de krektens net heech is, mar foar it algemiene yngenieurûntwerp kin it oan' e easken foldwaan.